產(chǎn)品型號:
ORTEC高純鍺γ譜儀產(chǎn)品描述:ORTEC公司在高純鍺探測器的制造上,經(jīng)歷了四十余年的沉淀,產(chǎn)品種類不斷豐富、性能不斷提高,在探測效率上
產(chǎn)品中心
Product Center
ORTEC高純鍺γ譜儀
產(chǎn)品描述:
ORTEC公司在高純鍺探測器的制造上,經(jīng)歷了四十余年的沉淀,產(chǎn)品種類不斷豐富、性能不斷提高,在探測效率上,能提供相對效率200%的P型同軸探測器和100%效率的N型探測器。ORTEC所有同軸探測器全面嚴(yán)格保證分辨率、峰康比和峰形指標(biāo),無論是何種應(yīng)用,總能在ORTEC系列產(chǎn)品中找到合適的探測器。
產(chǎn)品特征:
- 具有精確的能量分辨率
- 探測器回溫時高壓自動切斷
- 有良好的分辨率
技術(shù)參數(shù):
- GEM系列:P型同軸HPGe探測器
- GMX系列:N型同軸HPGe探測器
- GEM Profile系列:P型優(yōu)化同軸HPGe探測器
- SLP系列:X-射線Si ( Li )探測器
- GWL系列:井式高純鍺探測器
- SGD系列:核保障與無損分析(NDA)專用HPGe探測器
- GLP系列:平面HPGe探測器
- GEM-S/IC系列:“寬能”短同軸探測器
- GEM—F/M系列:短同軸探測器
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